Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie

von: Christian Jäger

diplom.de, 1998

ISBN: 9783832411848 , 103 Seiten

Format: PDF, OL

Kopierschutz: frei

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Preis: 38,00 EUR

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Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie


 

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